1. 학력 및 경력
- 전공 : 응용물리학
- 1982 서울대 이학사
- 1987 N. Texas 주립대 이학석사
- 1992 Pennsylvania 주립대 이학박사
- 경력 : 미국 Materials Research Institute, Pennsylvania 주립대
2. 주요 연구 분야
- A) 다양한 ellipsometer 개발.
- B) 반도체/디스플레이 박막 광특성연구
- C) Ellipsometry 응용 연구.
3. 대표 연구업적 (논문)
- 1. "Application of imaging ellipsometry to the detection of latent fingermarks", Forensic Science International 253, 28-32 (2015)
- 2. "Real-time Optical Studies in the UV Range of the Annealing of Zirconium oxide Thin Films in Vacuum" J. Kor. Phys. Soc. 66, 128-132 (2015)
- 3. "Multichannel ellipsometry for monitoring processes" Journal of Nanophotonics, 040302-049395 (2010)
4. 주요 강의 과목
- 1) 응용광학
- 2) 진공 및 박막
- 3) 반도체물리
